iS6059 Double-Sided Inspection（AOI）

3D 自动光学检测系统 iS6059 Double-Sided Inspection 可利用创新式 3D 照相技术针对印刷电路板正面和反面上分布的 THT 组件、THT 焊点、PressFit 和 SMD 组件执行无阴影且高精度的检测。此系统可以以 2D、2.5 D 以及 3D 的方式高速检查电路板。因此，iS6059 Double-Sided Inspection 代表着最大化的缺陷识别以及最高程度的通量。各式不同形式的照明可灵活切换，确保测试结果以最出色品质呈现。